Наименование:
–

Тип:
Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

ТУ:
–

Краткое тех. описание:
Для измерений с пикосекундным и фемтосекундным временным разрешением соответственно нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка, отвечающих за процесс самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниковых образцах, представляющих собой тонкие пленки толщиной 5-100 мкм.

Цена:
Уточняйте по телефону или через обратную связь.