Микроскоп интерференционный
автоматизированный МИА-1 (микропрофилометр)
Предназначен для бесконтактного автоматического
измерения микрорельефа поверхности, толщины тонких пленок, а также
высотных и шаговых параметров шероховатости поверхности.
Предназначен для бесконтактного
автоматического измерения микрорельефа поверхности, толщины
тонких пленок, а также высотных и шаговых параметров
шероховатости поверхности. Автоматизированный
интерференционный микропрофилометр создан на базе
микроинтерферометра Линника МИИ-4М, широко
используемого для промышленного контроля и измерений в металлобработке, микроэлектронике, производстве тонких
пленок и т.д. Для автоматизации измерений реализован метод
дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от
компьютера зеркала на пьезоэлементе, встроенного в опорное
плечо микроинтерферометра. Интерферограммы при различных
положениях опорного зеркала с помощью встроенной
ПЗС-телекамеры через устройство ввода изображения поступают
в персональный компьютер, где производится их автоматическая
обработка. Результаты измерений в виде тpехмеpных и
двумерных профилей объекта, гpафиков и гистогpамм
отобpажаются на экране компьютера, а также могут быть
выведены на пpинтеp для печати. Для точного позиционирования
объекта микропрофилометр может быть снабжен двухкооpдинатным
автоматизированным предметным столом с шаговыми двигателями,
управляемым от компьютера.
Области применения
в промышленности:
-
бесконтактное измерение микропрофиля
отражающих поверхностей
-
измерение высотных и шаговых
параметров шероховатости
-
измерение толщины тонких пленок
-
динамические измерения
в биологии и медицине:
-
возможность исследования живых
неокрашенных клеток
-
морфометрия клеток
-
измерение сухого веса клеток с
точностью 10-12 г
-
измерение показателя
двулучепреломления
-
оценка состояния популяции клеток
-
динамическая фазовая микроскопия
Состав:
-
базовый модернизированный
микроинтерферометр МИИ-4М
-
лазерный источник освещения
-
управляемое от компьютера опорное
зеркало на пьезоэлементе
-
две встроенные ПЗС-телекамеры
-
плата ввода изображения
-
плата управления пьезозеркалом
-
пакет прикладных программ с
руководством пользователя
-
управляемый от компьютера
двухкоординатный автоматизированный предметный стол с
шаговыми двигателями*
-
плата управления автоматизированным
предметным столом*.
Пример работы микропрофилометра:
Представление результатов
измерений:
-
Сечения горизонтальное и вертикальное
сечения профиля в любой выбранной точке
-
Псевдоцветное изображение
псевдоцветное изображение профиля с двумя взаимно
перпендикулярными сечениями в любой выбранной точке
-
Таблица значений таблица значений
высоты профиля в прямоугольной области профиле
-
Трехмерное изображение трехмерное
изображение профиля с возможностями масштабирования и
вращения
-
Протокол протокол измерений,
включающий в себя любой из перечисленных видов
представления
Технические характеристики |
|
Микроинтерферометр МИИ-4М |
|
Линейное поле зрения в плоскости
предмета, мкм:
при визуальном наблюдении с окуляром 15х
на ПЗС камере окулярного канала
на ПЗС камере фотографического канала |
320
145х109
30х23
|
|
Увеличение, крат
на площадке ПЗС камеры окулярного канала
на площадке ПЗС камеры фотографического канала |
33
157
|
|
Максимальная измеряемая глубина
рельефа, мкм |
20 |
|
Продольная разрешающая
способность, в долях длины волны λ |
λ/200 |
|
Поперечная разрешающая
способность, мкм |
0,5 |
|
Микрообъектив
фокусное расстояние, мм
числовая апертура
пределы перемещения для фокусировки, мм
увеличение, крат |
6,16
0,65
3
33,4
|
|
Освещение |
|
Полупроводниковый лазер
длина волны, мкм
мощность, мВт |
0,65
5
|
|
Автоматизированный Предметный
стол* |
|
Диапазон сканирования, мм |
40х40 |
|
Минимальный шаг сканирования, мкм |
5 |
|
Алгоритм |
|
Размерность изображения, пиксель |
768х576 |
|
Время измерения и обработки, сек |
30 |
|
Число обрабатываемых
интерферограмм |
5 |
|
Операционная система |
Windows XP |
|
Габаритные размеры (без
предметного стола), мм |
340х370х380 |
|
Масса, кг |
24 |
|
|