Установка измерения параметров наборов резисторов и резисторных микросхем
"ПКД-70"
Установка предназначена для
измерения коэффициентов
деления(Кд) и сопротивлений
резисторов(R) резисторных
микросхем и наборов резисторов и
обеспечивает накопление и
хранение не менее тысячи
результатов измерения, каждое из
которых может включать в себя
кроме полученных при измерениях
значений коэффициентов деления и
сопротивлений резисторов
следующие введенные оператором
сопутствующие параметры:
- тип измеряемого
изделия
- дату и время
выполнения
измерения
- заводской номер
измеряемого
изделия
- вид измерения -
"ПОДГОНКА",
"ЦЕХ", "ОТК",
"ТУ"
- технологические
стадии замера -
"перед ТЦ",
"после ТЦ",
"после ТЭТ",
"Ц.К. в н.у.
первич.", "Ц.К.
в н.у. герметиз."
- температуру
воздуха на
рабочем месте
оператора
установки
- отметку о
соответствии
(несоответствии)
полученного
результата
технологическим
нормам.
Хранение результатов измерений
при выключенной установке
обеспечивается без ограничения
времени, указанные данные
хранятся на жестком диске
компьютера.
Установка выполняет расчет
температурного коэффициента
деления при измерении параметров
наборов резисторов.
| Технические характеристики |
|
Предел относительной основной погрешности измерения Кд,%
|
±0,001
|
|
Предел относительной основной погрешности измерения R,%
|
±0,5
|
|
