- Описание
- Технические данные
Наименование:
–
Тип:
Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике
ТУ:
–
Краткое тех. описание:
Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей, а также показателя преломления. Область применения: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Цена:
Уточняйте по телефону или через обратную связь.
Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике
Подробное описание Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике временно отсутствует. За подробностями обращайтесь по телефону или через обратную связь.
|