Перейти на главную страницу сайта

 Поставки КИПиА и электротехнического оборудования

 

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

 
Сделать заказ >>>
bline.gif (87 bytes)

 Поиск в каталоге:
 
Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике / Измерения линейных параметров / Измерения геометрических величин / Каталог продукции
  • Описание
  • Технические данные
Наименование:


Тип:
Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

ТУ:


Краткое тех. описание:
Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей, а также показателя преломления. Область применения: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

Цена:
Уточняйте по телефону или через обратную связь.

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Подробное описание Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике временно отсутствует. За подробностями обращайтесь по телефону или через обратную связь.
Заказать Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Тел.(4812)386407, 386663, 387597. Факс(4812)385745
E-mail: mail@tdgears.ru